Пошаровий аналіз елементного складу твердих тіл методом вторинної іонної мас-спектрометрії
Вантажиться...
Файли
Дата
2014
Автори
Назва журналу
Номер ISSN
Назва тому
Видавець
Анотація
У статі розглянуто основні сфери застосування елементного аналізу твердих тіл, що є дуже важливим для розвитку сучасної науки. Більш детально розглянуто пошаровий аналіз методом вторинної іонної мас-спектрометрії. Також зазначено основні переваги та недоліки пошарового аналізу.
Опис
Ключові слова
елементний аналіз, вторинна іонна мас-спектрометрія, пошаровий аналіз
Бібліографічний опис
Коцур, О. С. Пошаровий аналіз елементного складу твердих тіл методом вторинної іонної мас-спектрометрії [Текст] / О. С. Коцур // Фізико-математична освіта : збірник наукових праць / Міністерство освіти і науки України, Сумський державний педагогічний університет ім. А. С. Макаренка, Фізико-математичний факультет ; редкол.: Ф. М. Лиман, В. С. Іваній, М. В. Каленик [та ін.]. – Суми : СумДПУ імені А. С. Макаренка, 2014. – Вип. 1 (6). – С. 111–120.