Please use this identifier to cite or link to this item: http://repository.sspu.edu.ua/handle/123456789/2376
Title: Пошаровий аналіз елементного складу твердих тіл методом вторинної іонної мас-спектрометрії
Other Titles: Layered Analysis of the Elemental Composition of Solids by Secondary Ion Mass Spectrometry
Authors: Коцур, О. С.
Kotsur, O. S.
Keywords: елементний аналіз
вторинна іонна мас-спектрометрія
пошаровий аналіз
elemental analysis
secondary ion mass spectrometry
layered analysis
Issue Date: 2014
Citation: Коцур, О. С. Пошаровий аналіз елементного складу твердих тіл методом вторинної іонної мас-спектрометрії [Текст] / О. С. Коцур // Фізико-математична освіта : збірник наукових праць / Міністерство освіти і науки України, Сумський державний педагогічний університет ім. А. С. Макаренка, Фізико-математичний факультет ; редкол.: Ф. М. Лиман, В. С. Іваній, М. В. Каленик [та ін.]. – Суми : СумДПУ імені А. С. Макаренка, 2014. – Вип. 1 (6). – С. 111–120.
Abstract: У статі розглянуто основні сфери застосування елементного аналізу твердих тіл, що є дуже важливим для розвитку сучасної науки. Більш детально розглянуто пошаровий аналіз методом вторинної іонної мас-спектрометрії. Також зазначено основні переваги та недоліки пошарового аналізу.
In article reviews the main scope applying of the elemental analysis of solids, which is very important for the development of modern science. The more detail reviews the layered analysis by secondary ion mass spectrometry. Also outlines the advantages and disadvantages of layered analysis.
URI: http://repository.sspu.sumy.ua/handle/123456789/2376
Appears in Collections:Фізико-математична освіта

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Kotsur.pdf1,03 MBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.