Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал:
http://repository.sspu.edu.ua/handle/123456789/2376Повний запис метаданих
| Поле DC | Значення | Мова |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Коцур, О. С. | - |
| dc.contributor.author | Kotsur, O. S. | - |
| dc.date.accessioned | 2017-09-22T11:01:07Z | - |
| dc.date.available | 2017-09-22T11:01:07Z | - |
| dc.date.issued | 2014 | - |
| dc.identifier.citation | Коцур, О. С. Пошаровий аналіз елементного складу твердих тіл методом вторинної іонної мас-спектрометрії [Текст] / О. С. Коцур // Фізико-математична освіта : збірник наукових праць / Міністерство освіти і науки України, Сумський державний педагогічний університет ім. А. С. Макаренка, Фізико-математичний факультет ; редкол.: Ф. М. Лиман, В. С. Іваній, М. В. Каленик [та ін.]. – Суми : СумДПУ імені А. С. Макаренка, 2014. – Вип. 1 (6). – С. 111–120. | uk_UA |
| dc.identifier.uri | http://repository.sspu.sumy.ua/handle/123456789/2376 | - |
| dc.description.abstract | У статі розглянуто основні сфери застосування елементного аналізу твердих тіл, що є дуже важливим для розвитку сучасної науки. Більш детально розглянуто пошаровий аналіз методом вторинної іонної мас-спектрометрії. Також зазначено основні переваги та недоліки пошарового аналізу. | uk_UA |
| dc.description.abstract | In article reviews the main scope applying of the elemental analysis of solids, which is very important for the development of modern science. The more detail reviews the layered analysis by secondary ion mass spectrometry. Also outlines the advantages and disadvantages of layered analysis. | uk_UA |
| dc.language.iso | uk | uk_UA |
| dc.subject | елементний аналіз | uk_UA |
| dc.subject | вторинна іонна мас-спектрометрія | uk_UA |
| dc.subject | пошаровий аналіз | uk_UA |
| dc.subject | elemental analysis | uk_UA |
| dc.subject | secondary ion mass spectrometry | uk_UA |
| dc.subject | layered analysis | uk_UA |
| dc.title | Пошаровий аналіз елементного складу твердих тіл методом вторинної іонної мас-спектрометрії | uk_UA |
| dc.title.alternative | Layered Analysis of the Elemental Composition of Solids by Secondary Ion Mass Spectrometry | uk_UA |
| dc.type | Article | uk_UA |
| Розташовується у зібраннях: | Фізико-математична освіта | |
Файли цього матеріалу:
| Файл | Опис | Розмір | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| Kotsur.pdf | 1,03 MB | Adobe PDF | Переглянути/Відкрити |
Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.