eSSPU logo
  • Українська
  • English
  • Увійти
    Новий користувач? Зареєструйтесь.Забули пароль?
eSSPU logo
  • Фонди та зібрання
  • Пошук за критеріями
  • Українська
  • English
  • Увійти
    Новий користувач? Зареєструйтесь.Забули пароль?
  1. Головна
  2. Переглянути за автором

Перегляд за Автор "Roienko O. Yu."

Зараз показуємо 1 - 2 з 2
Результатів на сторінці
Налаштування сортування
  • Документ
    Детектори частинок у прискорювачах заряджених частинок
    (2014) Роєнко О. Ю.; Roienko O. Yu.
    В статті розглянуто деякі види детекторів частинок, принцип їх роботи, згадано деякі методи визначення характеристик зареєстрованих частинок за допомогою аналізу зареєстрованого сигналу.
  • Документ
    Оценка вероятности образования отрицательных ионов водорода в поверхностно – плазменном методе генерации с помощью уравнения Рассера
    (СумДПУ імені А. С. Макаренка, 2016) Роєнко О. Ю.; Roienko O. Yu.
    Для оценки вероятности образования отрицательных ионов водорода в источнике отрицательных ионов с комбинированным методом получения отрицательных ионов было произведено расчеты по уравнению Рассера для определения вероятности генерации отрицательных ионов водорода в поверхностно плазменном методе для различных значений работы выхода поверхности. Подсчеты, в хорошем соответствии с существующей теорией о принципе осуществления поверхностно – плазменного метода, показали экспоненциальную зависимость вероятности образования отрицательных ионов при уменьшении работы выхода поверхности. Была проведена оценка необходимых для использования в выражении Рассера параметров с учетом допустимо возможных в источнике отрицательных ионов, разрабатываемом в институте прикладной физики ИПФ НАН Украины г. Сумы. В зависимости от выбора конструктивных особенностей источника, проведены подсчеты вероятности образования отрицательных ионов для двух вариантов реализации поверхностно плазменного метода.

Програмне забезпечення DSpace та СумДПУ імені А.С. Макаренка copyright © 2002-2025 LYRASIS

  • Налаштування куків
  • Політика приватності
  • Надіслати відгук