Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: http://repository.sspu.edu.ua/handle/123456789/2376
Назва: Пошаровий аналіз елементного складу твердих тіл методом вторинної іонної мас-спектрометрії
Інші назви: Layered Analysis of the Elemental Composition of Solids by Secondary Ion Mass Spectrometry
Автори: Коцур, О. С.
Kotsur, O. S.
Ключові слова: елементний аналіз
вторинна іонна мас-спектрометрія
пошаровий аналіз
elemental analysis
secondary ion mass spectrometry
layered analysis
Дата публікації: 2014
Бібліографічний опис: Коцур, О. С. Пошаровий аналіз елементного складу твердих тіл методом вторинної іонної мас-спектрометрії [Текст] / О. С. Коцур // Фізико-математична освіта : збірник наукових праць / Міністерство освіти і науки України, Сумський державний педагогічний університет ім. А. С. Макаренка, Фізико-математичний факультет ; редкол.: Ф. М. Лиман, В. С. Іваній, М. В. Каленик [та ін.]. – Суми : СумДПУ імені А. С. Макаренка, 2014. – Вип. 1 (6). – С. 111–120.
Короткий огляд (реферат): У статі розглянуто основні сфери застосування елементного аналізу твердих тіл, що є дуже важливим для розвитку сучасної науки. Більш детально розглянуто пошаровий аналіз методом вторинної іонної мас-спектрометрії. Також зазначено основні переваги та недоліки пошарового аналізу.
In article reviews the main scope applying of the elemental analysis of solids, which is very important for the development of modern science. The more detail reviews the layered analysis by secondary ion mass spectrometry. Also outlines the advantages and disadvantages of layered analysis.
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): http://repository.sspu.sumy.ua/handle/123456789/2376
Розташовується у зібраннях:Фізико-математична освіта

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
Kotsur.pdf1,03 MBAdobe PDFПереглянути/Відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.